O‘LCHASH XATOLIKLARINI MINIMALLASHTIRISH: METROLOGIK YONDASHUV - Eliyeva Ra’no Rustam qizi (NAZARIY VA AMALIY FANLARDAGI USTUVOR ISLOHOTLAR VA ZAMONAVIY TA’LIMNING INNOVATSION YO’NALISHLARI, 2025)
Ushbu maqolada o‘lchash jarayonlarida yuzaga keladigan xatoliklarning turlari, ularning kelib chiqish sabablari va ularni minimallashtirishning samarali metrologik yondashuvlari tahlil qilinadi. Metrologiya fanining asosiy tamoyillari asosida o‘lchash vositalarini kalibrlash, kuzatish zanjiri (traceability)ni ta’minlash, noaniqliklarni baholash va o‘lchash sharoitlarini optimallashtirish usullari ko‘rib chiqiladi. Amaliy misollar orqali o‘lchash natijalarining ishonchliligi va aniqligini oshirishga qaratilgan uslubiy tavsiyalar beriladi. Tadqiqot sanoat, laboratoriya va texnik nazorat jarayonlarida o‘lchash sifatini yaxshilashga xizmat qiladi. Maqolada o‘lchash xatoliklarini baholash va chin o‘lchamni aniqlash usullari haqida batafsil ma'lumot beradi. O‘lchashlar nazariyasi va o‘lchash xatoliklarini bartaraf etish metrologiya sohasining muhim jihatlaridan biri hisoblanadi. Maqolada O‘zDSt 8.010.1:2002 standartiga muvofiq chin qiymat va haqiqiy qiymat tushunchalari yoritiladi. Chin qiymat, barcha o‘lchash xatoliklarini bartaraf etish bilan erishiladigan ideal qiymatdir. Haqiqiy qiymat esa tajriba natijasida olingan va chin qiymatga eng yaqin bo‘lgan qiymatdir.